Badania struktury i właściwości metali

Akredytowane Laboratorium Badawcze

PCAZakład Badania Metali Instytutu prowadzi badania struktury i właściwości metali. Od 1997 roku Zakład jest akredytowanym laboratorium badawczym Instytutu. System zarządzania w Zakładzie podlegał ciągłemu doskonaleniu pod nadzorem Polskiego Centrum Badań i Certyfikacji, a od 2002 roku - Polskiego Centrum Akredytacji. W 2006 roku wdrożono system zgodny z normą PN-EN ISO/IEC 17025:2005 - Ogólne wymagania dotyczące kompetencji laboratoriów badawczych i wzorcujących. Zakład posiada Certyfikat Akredytacji Nr AB 105.

Link do zakresu akredytacji, który jest dostępny na stronie PCA:
http://www.pca.gov.pl/akredytowane-podmioty/akredytacje-aktywne/laboratoria-badawcze/AB%20105,podmiot.html

 

Metody badawcze objęte zakresem akredytacji

 

Pozostałe oferowane metody badań

 

System skaningowego mikroskopu elektronowego

 

 

Metody badawcze objęte zakresem akredytacji

 

  • Metoda optycznej spektrometrii emisyjnej – oznaczanie zawartości C, Mn, Si, P, S, Cr, Ni, Mo, V, W, Cu, Al, Co, Nb, Ti w następującym zakresie : C (0,05 – 1,4) %, Mn (0,05 – 2,2) %, Si (0,01 – 1,6) %, P (0,01 – 0,05) %, S (0,01 – 0,05) %, Cr (0,09 – 23,5) %, Ni (0,05 – 18,9) %, Mo (0,10 – 2,4) %,  V (0,03 – 0,80) %,  W (0,015 – 2,9) %,  Cu (0,045 – 0,55) %, Al (0,01 – 0,88) %,
  • Statyczna próba rozciągania w zakresie sił rozciągających do 1000 kN w temperaturze pokojowej, z możliwością określenia:
    • wytrzymałości na rozciąganie Rm,
    • umownej granicy plastyczności Rp,
    • wyraźnej granicy  plastyczności Re,
    • wydłużenia procentowego po rozerwaniu A,
    • przewężenia procentowego przekroju Z,
  • Własności mechaniczne (wytrzymałość na rozciąganie) w zakresie sił rozciągających do 1000 kN w temperaturze pokojowej,
  • Podatność do odkształceń plastycznych w zakresie kąta zgięcia do 180° (próba zginania),
  • Wytrzymałość na ściskanie w zakresie sił do 1000 kN w temperaturze pokojowej,
  • Próba udarności sposobem Charpy'ego KV2, KU2 w zakresie początkowej energii młota do 300 J, w temperaturze 23±5°C,
  • Pomiary twardości:
    • metodą Vickersa w zakresie HV 0,3 , HV 0,5,
    • metodą Rockwella w zakresie skali A i C,
  • Pomiary mikrotwardości:
    • metodą Vickersa w zakresie HV 0,05, HV 0,1,
    • metodą Knoopa w zakresie HK 0,1,
  • Metoda mikroskopii optycznej w zakresie ilościowej i jakościowej analizy składników struktury,
  • Metoda skaningowej mikroskopii elektronowej w zakresie analizy mirkostruktury, morfologii powierzchni oraz cechy przełomów,
  • Metoda ultradźwiękowa w zakresie badania wad wewnętrznych/nieciągłości odkuwek stalowych.
  • Pomiary głębokości odwęglenia metodą: Vickersa, Knoopa oraz metalograficzną.

 

W gorę     

 

Pozostałe oferowane metody badań

 

  • Badania tłoczności blach i taśm metodą Erichsena
  • Technologiczna próba zginania blach i drutów w celu określenia podatności materiału do odkształceń plastycznych
  • Próba udarności z określeniem siły w funkcji drogi łamania
  • Próba udarności sposobem Charpy'ego KCV i KCU w temperaturach obniżonych do – 40 °C
  • Identyfikacja faz występujących w metalach metodą rentgenowskiej analizy fazowej
  • Wyznaczanie ilości austenitu szczątkowego w zahartowanych stalach metodą rentgenograficzną
  • Wyznaczanie krzywych wzmocnienia i naprężeń uplastyczniających w zakresie temperatur 20-1200 °C metodą beztarciowego ściskania próbek
  • Statyczna próba rozciągania w temperaturach podwyższonych (do 800 °C) z wyznaczeniem granicy plastyczności i wytrzymałości na rozciąganie
  • Pomiary tensometryczne sił i naprężeń w narzędziach i maszynach
  • Pomiary naprężeń własnych materiałów metodą rentgenowską sin y2
  • Badania zmęczeniowe (do 200 kN)

 W gorę

 

 

System skaningowego mikroskopu elektronowego

 

Zakład Badania Metali posiada system skaningowego mikroskopu elektronowego FEI Inspect S i spektrometru EDS EDAX Genesis 2. Uniwersalny skaningowy mikroskop elektronowy, umożliwiaja generowanie i zbieranie wszelkich możliwych informacji generowanych z próbek materiałów przewodzących lub nieprzewodzących.

Główne elementy i charakterystyki układu optycznego mikroskopu Inspect S:

  • Napięcie przyspieszające 200 V do 30 kV
  • Rozdzielczość

Rozdzielczość SE:
- 3.0 nm (separacja ziaren złota na błonce węglowej) przy 30 kV, w obu trybach próżniowych,
- 10 nm przy 3 kV w trybie wysokopróżniowym
- <12 nm przy 3 kV w trybie niskopróżniowym.

Rozdzielczość BSE:
- 4.0 nm (separacja ziaren złota, zwieszonych na błonce węglowej) przy 30 kV, w obu trybach próżniowych 

  • Powiększenie 6x (przy największe odległości roboczej) do >1 000,000x, dla standardowego monitora LCD o przekątnej 19 cali
  • Standardowe detektory systemowe

System Inspect S wyposażony jest o w detektory niezbędne do detekcji elektronów wtórnych (SE) w całym dostępnym zakresie próżniowym:

- w trybie wysokiej próżni: konwencjonalny detektor SED Everharta-Thornley'a ze zmiennym potencjałem siatki;
- w trybie niskiej próżni: szerokopolowy gazowy detektor LF-SED (trzeciej generacji), montowany nie-osiowo, wyposażony w udoskonalony przedwzmacniacz sygnału;
- Detektor elektronów wstecznie rozproszonych SS BSED
- Analityczny „gazowy” detektor elektronów wstecznie rozproszonych GAD SS BSED
EDS

Detektor Si(Li) przeznaczony do detekcji wszystkich pierwiastków od berylu wzwyż.

  • Oprogramowanie jakościowej i ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej do próbek badanych w skaningowym mikroskopie elektronowym, korzystające z algorytmów korekcji macierzowych ZAF i oferujące następujące możliwości: 

- Całkowicie bezwzorcowa analiza ilościowa
- Możliwość uwzględniania współczynników korekcji dla pierwiastków lekkich
- Pełna możliwość analizy ilościowej z wykorzystaniem wzorców czystych pierwiastków, wzorców związków lub wzorców częściowych
- Zaawansowany pakiet oprogramowania do akwizycji i wyświetlania cyfrowych obrazów elektronowych (SE, BSE etc.) i/lub map rentgenowskich rozkładu pierwiastków. Zebrane obrazy mogą być drukowane lub archiwizowane na dyskach. Możliwa jest jednoczesna akwizycja do 36 obrazów,  w tym każda kombinacja do 35 map rtg i do 2 obrazów elektronowych.
- Możliwość rejestrowania profili rozkładu pierwiastków wzdłuż linii prostej, przy czym rezultaty są przesyłane do programu arkusza kalkulacyjnego MS-Office Excel i tu dostępne do przeglądania oraz ewentualnej dalszej obróbki. "Skany liniowe" mogą być rejestrowane wzdłuż wybranej linii prostej zorientowanej w jakimkolwiek kierunku i przechodzącej przez jakikolwiek punkt na obrazie.

W gorę